專業(yè)PCIe NVMe SSD測試系統(tǒng);
主流測試配置:
120 slot 2.5寸/AIC SSDs(環(huán)境溫度 0~85 oC)
240 slot 2.5寸/AIC SSDs(環(huán)境溫度 +10 oC~85 oC)
溫度范圍: 0 ~85°C溫度范圍: 環(huán)境+ 10 oC + 85oC?
可編程的單DUT板電流和電壓設(shè)置
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小體積 (19”機架為基礎(chǔ))
友好的用戶下拉菜單驅(qū)動腳本語言
可視化溫度控制和監(jiān)控功能
友好用戶界面,簡易測試控制(啟動/停止)和監(jiān)控(狀態(tài))
單屏顯示被測試設(shè)備(DUT) 所有Devices
實時顯示性能、吞吐量、IOPS,溫度和功耗
GUI允許從腳本級通過DUT接口命令和下位級的寫和讀操作直觀地進行監(jiān)視
專業(yè)的PCIE SSD工程樣品、可靠性、質(zhì)量和生產(chǎn)測試腳本完整測試模型庫多線程高性能測試
遠(yuǎn)程訪問測試系統(tǒng)
DUT測試板獨立操作,可同時調(diào)試驅(qū)動器和繼續(xù)測試其他DUT
未來存儲產(chǎn)品需求可再升級該測試系統(tǒng)
每個端口獨立運行
可擴展性強,測試機架可級聯(lián),以提高測試能力
外部尺寸:寬x高x深=1450 x 1860x 1070cm
380V三相(380V15A /380V30A),可滿足國際電壓要求
測試結(jié)果以清晰、詳細(xì)的圖表和圖形形式呈現(xiàn)
測試腳本開發(fā)工具
GUI界面的測試控制平臺
詳細(xì)的交互式shell命令調(diào)試界面報表功能
每個DUT信息可單獨捕獲
同時運行多個測試
用戶定義的API插件
Python/C 支持

工廠生產(chǎn)測試
資質(zhì)
質(zhì)量保證
? Reliability Demonstration Testing?
? Ongoing Reliability Testing (ORT)
? Design Verification Testing (DVT)
設(shè)備檢查/篩選
JEDEC and SNIA 認(rèn)證
軍工級極限溫度測試能力
觸摸屏
兼容多Form Factors適配器和夾具
測試套件設(shè)計和開發(fā)服務(wù)
視覺/聲音報警
主操作控制臺可監(jiān)控多個系統(tǒng)